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  • BSD-PM高性能微孔分析儀
    BSD-PM高性能微孔分析儀

    更新時(shí)間：2024-10-25

    型號(hào)：BSD-PM

    瀏覽量：1581

    高性能高性能微孔分析儀屬于研究級(jí)儀器，可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù)，尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果，適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。
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  • BSD-PMBET比表面及孔隙度檢測(cè)
    BSD-PMBET比表面及孔隙度檢測(cè)

    更新時(shí)間：2024-10-25

    型號(hào)：BSD-PM

    瀏覽量：1328

    BET比表面及孔隙度檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)*,。
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  • BSD-PSBET比表面及孔隙度檢測(cè)儀
    BSD-PSBET比表面及孔隙度檢測(cè)儀

    更新時(shí)間：2024-10-25

    型號(hào)：BSD-PS

    瀏覽量：1228

    BET比表面及孔隙度檢測(cè)儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)*,。
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  • BSD-PSBET比表面及孔隙度測(cè)量
    BSD-PSBET比表面及孔隙度測(cè)量

    更新時(shí)間：2024-10-25

    型號(hào)：BSD-PS

    瀏覽量：1358

    BET比表面及孔隙度測(cè)量?jī)x，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSBET比表面及孔隙度測(cè)量?jī)x
    BSD-PSBET比表面及孔隙度測(cè)量?jī)x

    更新時(shí)間：2024-10-25

    型號(hào)：BSD-PS

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    BET比表面及孔隙度測(cè)量?jī)x，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSBET比表面及孔隙度測(cè)定
    BSD-PSBET比表面及孔隙度測(cè)定

    更新時(shí)間：2024-10-25

    型號(hào)：BSD-PS

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    BET比表面及孔隙度測(cè)定儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSBET比表面及孔隙度測(cè)定儀
    BSD-PSBET比表面及孔隙度測(cè)定儀

    更新時(shí)間：2024-10-25

    型號(hào)：BSD-PS

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    BET比表面及孔隙度測(cè)定儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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  • BSD-PSBET比表面及孔隙度測(cè)試
    BSD-PSBET比表面及孔隙度測(cè)試

    更新時(shí)間：2024-10-25

    型號(hào)：BSD-PS

    瀏覽量：1113

    BET比表面及孔隙度測(cè)試儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)
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